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[会议论文] 作者:李建智, 来源:帕纳科第12届用户X射线分析仪器技术交流会 年份:2012
本文提出了一种全新测定铝电解质成分方法,即XRD法.采用X射线衍射仪在3分钟时间内,可以准确的测定出铝电解质中的冰晶石、亚冰晶石、氟化钙、氧化铝、氟化锂、氟化钾、游离氟...
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