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[期刊论文] 作者：李愿杰,李智伟,,
来源：东方电气评论 年份：2013
对不同单晶硅片中的替位碳含量进行了常温／低温（〈15K）红外光谱测试。通过对比研究发现，在所有实验样品中，除一个碳含量高的样品相对偏差较大以外，其余样品的相对偏差都很小，均在......
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