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[期刊论文] 作者：崔毅,危峻,汤瑜瑜,马亮,,
来源：光谱学与光谱分析 年份：2014
拖尾（smear）现象是面阵CCD器件的固有问题。在推扫式成像光谱仪中，拖尾对成像的作用形式较为特殊，传统的扣除方案已不再适用，急需新的适合这一应用场合的方法。通过建立光谱仪中拖......
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