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[期刊论文] 作者：张延志,赖新春,管卫军,王勤国,
来源：无损检测 年份：2009
根据薄膜对X射线的吸收效应，利用X射线衍射方法可测量出多晶基材表面的薄膜厚度。但试验结果显示，基材的择优取向效应对薄膜厚度的测量影响显著。根据理论分析，提出了择优取向修......
[期刊论文] 作者：王勤国,李嵘,帅茂兵,敬文勇,,
来源：核化学与放射化学 年份：2009
利用覆膜法对长期贮存氚的LaNi5进行了XRD分析。经过实验发现，老化后的LaNi5的谱峰比新鲜的LaNi5存在明显的展宽，而经过高温除He处理后，又恢复到新鲜的LaNi5水准，氚衰变形成的^3H...
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