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[期刊论文] 作者：王召斌, 翟国富, 黄晓毅,,
来源：电工技术学报 年份：2012
电磁继电器贮存过程中,触点间的接触电阻超标是主要的失效模式,而触点间的阴离子扩散是导致触点表面绝缘膜增长、接触电阻增加的主要原因。本文分析了纯金属触点表面腐蚀膜的...
[期刊论文] 作者：黄晓毅,王召斌,叶雪荣,翟国富,马跃,
来源：低压电器 年份：2012
通过采用加速退化试验的研究方法，解决航天电磁继电器加速贮存中出现小子样零失效时的贮存可靠性评估问题，初步给出了航天电磁继电器加速贮存退化试验方案，开发了航天电磁继电器......
[期刊论文] 作者：王召斌,蔡昭文,翟国富,黄晓毅,任万滨,,
来源：低压电器 年份：2012
以某型号航天继电器为例,通过对失效机理及其接触退化规律的分析,建立贮存退化失效可靠性统计模型,给出了航天继电器接触寿命分布函数。研制了温度应力航天继电器加速贮存退...
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