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[期刊论文] 作者：肖庆国,冯哲圣,杨邦朝,袁正希,
来源：电子元件与材料 年份：2003
研究了测定化成箔中的微量SO42-含量的离子色谱法:将化成箔用碱溶液溶解后,用活性Al2O3分离柱除去Al3+等干扰离子,以峰面积积分定量测定了化成箔中SO42-的含量.本方法的检测...
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