搜索筛选:
搜索耗时1.1777秒,为你在为你在102,285,761篇论文里面共找到 1 篇相符的论文内容
发布年度:
[期刊论文] 作者:董作典,宋燕,史广芹,韩宝妮,唐旭,何婷,,
来源:电子产品可靠性与环境试验 年份:2016
电容失效是电子电路中常见的故障。通过对某QPSK调制器微波单片集成电路(MMIC)进行失效分析,确定了该产品出现的故障是由MIM电容引起的,进一步地通过故障原因排查和故障机理分...
相关搜索: