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[期刊论文] 作者：董作典,宋燕,史广芹,韩宝妮,唐旭,何婷,,
来源：电子产品可靠性与环境试验 年份：2016
电容失效是电子电路中常见的故障。通过对某QPSK调制器微波单片集成电路（MMIC）进行失效分析,确定了该产品出现的故障是由MIM电容引起的,进一步地通过故障原因排查和故障机理分...
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