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[期刊论文] 作者：袁天云,韩琳,,
来源：电子产品可靠性与环境试验 年份：2006
对在多级电源系统可靠性设计中遇到的几个关于闩锁的问题进行了研究，针对闩锁产生的原因进行分析，并提出解决方法。...
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