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[会议论文] 作者：谈恩民,叶宏,张勇,
来源：2005年全国测控、计量、仪器仪表学术年会 年份：2005
构造BIST(Built-InSelf-Test)单元是逻辑电路层次化BIST设计的重要组成部分.对于不同的被测对象CUT(CircuitUnderTest),BIST单元需要进行测试控制器、测试生成器和响应分析器...
[会议论文] 作者：谈恩民[1]叶宏[2]张勇[2],
来源：2005年全国测控、计量、仪器仪表学术年会 年份：2005
构造BIST(Built-InSelf-Test)单元是逻辑电路层次化BIST设计的重要组成部分.对于不同的被测对象CUT(CircuitUnderTest),BIST单元需要进行测试控制器、测试生成器和响应分析器...
[会议论文] 作者：谈恩民,玄立伟,蒋志刚,
来源：2005年全国测控、计量、仪器仪表学术年会 年份：2005
随着半导体工业尤其是微电子技术的飞速发展,传统的板级测试方案面临越来越多的困难.边界扫描技术是目前广泛使用的板级互连测试解决方案.本文在已有的边界扫描测试硬件系统的基础上,设计了一个边界扫描测试软件系统.该软件系统使用VisualC++实现,通过计算机串......
[会议论文] 作者：谈恩民[1]玄立伟[2]蒋志刚[2],
来源：2005年全国测控、计量、仪器仪表学术年会 年份：2005
随着半导体工业尤其是微电子技术的飞速发展,传统的板级测试方案面临越来越多的困难.边界扫描技术是目前广泛使用的板级互连测试解决方案.本文在已有的边界扫描测试硬件系统...
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