搜索筛选:
搜索耗时0.7947秒,为你在为你在102,285,761篇论文里面共找到 2 篇相符的论文内容
发布年度:
[期刊论文] 作者：谈恩民,叶宏,,
来源：微电子学与计算机 年份：2006
测试生成器TPG（Tesl Panern Generation）的构造是BIST（Built—In Self-Test）测试策略的重要组成部分。文章结合加权伪随机测试原理及低功耗设计技术，提出了一种基于低功耗及加权优...
[会议论文] 作者：谈恩民,李秀真,
来源：第十六届全国测控、计量、仪器仪表学术年会 年份：2006
大多数存储器测试算法的优化是面向特定的存储器技术或者特殊的故障模型设置.这些优化都是针对面向"位"的存储器.常规的字存储器的测试是通过反复地应用位存储器的测试方法来...
相关搜索：
