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[学位论文] 作者：谈恩民,,
来源：上海交通大学 年份：2007
BIST(Built-In Self-Test,内建自测试)技术是在CUT(Circuit Under Test,被测电路)中嵌入一测试结构来实施测试工作的。作为一种可实现全速测试(at-speed)的DFT(Design For Te...
[会议论文] 作者：谈恩民,王彦婷,
来源：2007年首届仪表、自动化与先进集成技术大会 年份：2007
随着集成电路的规模和密度越来越大,SoC芯片的结构也越来越复杂,嵌入在SoC芯片中的存储器容量和字长各不相同,因此SoC中存储器的测试显得尤为重要。基于面向自测试March C算...
[期刊论文] 作者：谈恩民,Song Shengdong,Shi Wenkang,
来源：高技术通讯：英文版 年份：2007
...
[期刊论文] 作者：谈恩民,宋胜东,施文康,,
来源：微电子学与计算机 年份：2007
提出了一种在不损失固定型故障覆盖率的前提下降低测试功耗的内建自测试BIST（built-in self-test）设计方法，该方法在原始线性反馈移位寄存器LFSR（linear feedback shift register...
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