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[期刊论文] 作者：谈恩民,张立刚,,
来源：国外电子测量技术 年份：2010
集成电路深亚微米工艺技术和设计技术的迅速发展使得SoC存储器的测试问题日益成为制约其技术发展的“瓶颈”。为解决SoC中存储器走线和多IP核测试等问题,本文从嵌入式核测试...
[期刊论文] 作者：胡哲纲,谈恩民,,
来源：国外电子测量技术 年份：2010
随着集成电路工艺和规模的飞速发展，使得VLSI测试变得日益困难，因此测试技术成为VLSI领域的一个重要研究课题。在分析VLSI测试的瓶颈问题基础上，介绍了几种电路分块算法，分析了分......
[期刊论文] 作者：姚丽婷,谈恩民,,
来源：电子设计工程 年份：2010
针对内建自测试（Built—In Self-Test，BIST）技术的伪随机测试生成具有测试时间过长，测试功耗过高的缺点，严重影响测试效率等问题。提出一种低功耗测试生成方案，该方案是基于线性反......
[期刊论文] 作者：蒋继刚,谈恩民,姚丽婷,,
来源：国外电子测量技术 年份：2010
本文介绍一种内建自测试总体优化的测试生成方法,首先对细胞自动机的特点进行了介绍,还分析了细胞自动机结构的邻居关系和加权测试序列相关性,最后本文用多目标遗传算法来设...
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