搜索筛选:
搜索耗时0.8219秒,为你在为你在102,285,761篇论文里面共找到 7 篇相符的论文内容
类      型:
[期刊论文] 作者:谈恩民,王鹏,, 来源:电子测量与仪器学报 年份:2011
在系统芯片SoC测试中,测试时间与测试功耗是两个互相影响的因素。多目标进化算法能够处理相互制约的多目标同时优化问题。在无约束条件下,对SoC测试时间与测试功耗建立联合优...
[期刊论文] 作者:谈恩民,詹琰,, 来源:微电子学与计算机 年份:2011
在分析和介绍了海明距离与笛卡尔距离的基础上,通过改进细胞自动机生成的测试矢量间的链接性,提出了结合预确定距离的测试矢量优化方法.该方法通过设计最大海明距离和笛卡尔...
[期刊论文] 作者:邬毅松,谈恩民,, 来源:计算机系统应用 年份:2011
测试调度能够很好的减少测试时间和降低测试成本。通过调度,SOC中尽可能多的IP核可以进行并行测试,然而过度的并行测试会引起功耗过高,对SOC产生不利影响。为了改善这个问题,考虑......
[期刊论文] 作者:谈恩民,詹琰,刘建军,, 来源:计算机应用研究 年份:2011
为了降低测试功耗,提出一种新的低功耗测试矢量方案,该方案增设了一个可编程的约翰逊计数器。这种技术首先对确定测试矢量进行编码得到LFSR矢量种子,然后对LFSR种子解码、重排得到新的测试矢量。通过ISCAS85实验结果表明,该技术能够改善测试矢量之间的线性相关......
[期刊论文] 作者:刘金涛,刘伟,谈恩民,, 来源:电子测量与仪器学报 年份:2011
在通用图像采集IP核的基础上,提出了一种能更好地应用于自动聚焦等相关算法的IP核。充分利刚图像数据中的引导码完成了软同步设计,根据算法进行需求分析,只提取图像信号中的灰度......
[期刊论文] 作者:谈恩民,马江波,秦昌明, 来源:微电子学与计算机 年份:2011
在系统芯片SoC测试中,存储器的可靠性测试是一项非常重要内容.IEEE Std 1500是专门针对嵌入式芯核测试所制定的国际标准,规范了IP核提供者和使用者之间的标准接口.基于此标准...
[期刊论文] 作者:韦世宽, 雷加, 谈恩民, 王冬,, 来源:电子测量与仪器学报 年份:2011
针对目前光伏最大功率点跟踪(MPPT)技术研究和应用现状,根据控制算法的不同分类,选取固定电压法、扰动观察法、增量电导法作为研究对象。分析各种控制算法的实现原理,并且在反......
相关搜索: