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[期刊论文] 作者：陆颖莹, 谈恩民,,
来源：桂林电子科技大学学报 年份：2012
为了提高存储器的边界扫描测试软件的通用性，提出一种基于TCL语言及边界扫描技术的存储器测试脚本设计方案。结合存储器测试理论及边界扫描逻辑簇测试技术，研究基于TCL脚本语言......
[期刊论文] 作者：高俊强,谈恩民,
来源：国外电子测量技术 年份：2012
边界扫描技术的提出给集成电路的测试带来极大方便,但集成电路随着半导体技术的发展变得越来越复杂,导致测试功耗迅速提高,对芯片造成一定甚至不可挽回的影响。为降低测试功...
[期刊论文] 作者：袁江楠,谈恩民,,
来源：大众科技 年份：2012
在802.16e系统中,接收端对同步精度有很高的要求,同步误差会导致系统性能的急剧下降。文章介绍了OFDMA的基本概念和体系结构,分析了同步误差对系统性能的影响,并对系统的同步...
[期刊论文] 作者：柴华, 谈恩民, 江志强,,
来源：大众科技 年份：2012
随着集成电路规模的不断扩大,基于IP核复用的SoC设计技术被广泛应用,但是由于IP核的来源不同,使得SoC的测试变得越来越困难。IEEE Std 1500给IP核提供商与用户之间提供了标准...
[期刊论文] 作者：谈恩民,柴华,江志强,
来源：计算机测量与控制 年份：2012
超大规模集成电路和超深亚微米技术的快速发展，促使了系统芯片（SystemonChip，SoC）的产生，同时在SoC中也集成了越来越多的嵌入式存储器，因此嵌入式存储器对SoC芯片的整体性能有非常......
[期刊论文] 作者：冯兵,谈恩民,陈果,李艳群,,
来源：国外电子测量技术 年份：2012
随着大规模混合信号集成电路设计水平及复杂性的不断提高,对其进行测试的难度与成本变得越来越高,而测试功耗过高已经成为影响测试成本的一个重要因素。ADC作为混合信号电路...
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