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[期刊论文] 作者：耿富平, 谈恩民,,
来源：国外电子测量技术 年份：2014
为了实现在ARM环境下的嵌入式应用平台,选取宿主机与ARM芯片S3C6410搭建了嵌入式交叉开发硬件平台,在此基础上安装了无需额外安装函数库的新一代EABI交叉编译器GCC,并使用该...
[期刊论文] 作者：谈恩民,王海超,,
来源：微电子学与计算机 年份：2014
在大规模数模混合信号集成电路中,模拟信号的测试是一个重点和难点.BIST技术不仅能缩短测试和验证时间,而且提高了故障覆盖率,被越来越多地应用在模拟电路的测试中.由此对传...
[期刊论文] 作者：赵丽丽,谈恩民,王海超,,
来源：国外电子测量技术 年份：2014
片上系统SOC测试时间很大程度上取决于Wrapper和测试访问机制TAM（test access mechanism）的设计。为了优化SOC测试时间,主要对Wrapper和TAM进行设计,降低单个核的测试应用时间...
[期刊论文] 作者：胡晓,谈恩民,陈寿宏,尚玉玲,
来源：微电子学与计算机 年份：2014
为提高边界扫描测试效率,设计并开发了一种基于嵌入式开源数据库SQLite的边界扫描测试系统.简单陈述了嵌入式数据库SQLite技术、边界扫描测试原理,阐述了边界扫描测试软件模...
[期刊论文] 作者：胡晓,谈恩民,陈寿宏,尚玉玲,,
来源：计算机测量与控制 年份：2014
在边界扫描测试技术中,由BS器件和非BS器件主成的逻辑簇测试是研究的难点问题,文章介绍了高效、简明、移植性好的TCL语言.在深入研究边界扫描簇测试原理的基础上,以实现逻辑簇测试为目的,采用了TCL嵌入C++的方法实现测试用例的脚本化,完成了基于TCL语言的Cluste......
[会议论文] 作者：陈寿宏;马峻;黄新;颜学龙;谈恩民;,
来源：第五届国防科技工业试验与测试技术发展战略高层论坛 年份：2014
边界扫描测试技术以其特有的"虚拟探针"功能,为解决高密度系统集成组件的测试难题提供了强有力的手段.从边界扫描测试技术的应用领域及其国内外应用现状出发,简要介绍所开发...
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