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[期刊论文] 作者：谈恩民,贾亚平,,
来源：微电子学与计算机 年份：2017
针对现有SoC测试方法所需测试时间过长的问题,提出了一种基于遗传算法的多IP核并行测试方法.该方法主要是在功耗约束的情况下,通过遗传算法将尽可能多的IP核的测试数据压缩,即IP核的测试数据相同的位接到同一根总线数据位,使每次并行测试的IP核数量达到最大.此......
[期刊论文] 作者：谈恩民,王存存,张欣然,,
来源：电子测量与仪器学报 年份：2017
为了提高模拟电路软故障诊断、识别的正确分类率,提出了一种提升小波变换和混沌萤火虫算法（CFA）优化LSSVM参数的模拟电路故障诊断方法。首先对采集到的被测电路输出电压信号进...
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