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[期刊论文] 作者：郭纯维,马颖,燕少安,周益春,,
来源：现代应用物理 年份：2014
采用溶胶-凝胶法制备了Pt/Bi3.15Nd0.85Ti3O12/SrTiO3/Si多层电容即金属-铁电层-绝缘层-半导体结构,并对其电学性能进行了测试与分析。获得的存储窗口电压约为2.5V,漏电流密...
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