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[学位论文] 作者：陈晓力,
来源：江苏大学 年份：2017
测量介质损耗，可以发现一系列绝缘缺陷，是检验设备绝缘的重要项目。在一次设备中，电容型设备占据的比例最高。因此，电容型设备的介质损耗因数（tanδ）通常会被作为状态检修的重要依......
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