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[期刊论文] 作者：童亮,彭浩,高金环,黄杰,,
来源：半导体技术 年份：2012
为了在尽量短的时间内对S波段硅微波功率晶体管的长期可靠性进行研究,依据温度应力阿列尼乌斯(Arrhenius)模型,进行了两种S波段硅微波功率晶体管的可靠性寿命评价试验。试验...
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