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[会议论文] 作者：吴玉俊, 向奇, 高鸿波,,
来源： 年份：2004
检测对象的X射线的衰减系数是正确选择检测参数重要依据之一,同时散射线的存在也会影响射线成像的质量。本文在CR技术条件下,对TC4合金进行衰减系数及散射线的测定分析,为相...
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