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[期刊论文] 作者：龙海珍,孔会民,马富超,申卫龙,,
来源：光谱实验室 年份：2013
应用X射线荧光光谱仪监控铜选矿流程,采用粉末压片法制样,确定了仪器最佳参数,建立了校准曲线。经北京矿业研究总院验证,原矿偏差小于±0.024%,尾矿偏差小于±0.004%,精矿偏...
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