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[期刊论文] 作者：黎建明,屠海令,胡广勇,王超群,郑安生,钱嘉裕,
来源：半导体学报 年份：2003
用X射线衍射技术分析在高温退火过程中GaAs晶片和石墨接触区域的热应力对晶体缺陷的影响 .结果表明 :在高温退火条件下 ,GaAs晶体与石墨接触区域散热不均匀造成的热应力 ,致...
[期刊论文] 作者：张希顺,孙丽虹,刘安生,邵贝羚,胡广勇,吴志斌,
来源：电子显微学报 年份：2003
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