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[期刊论文] 作者：黄雒光,董四华,刘英坤,郎秀兰,,
来源：半导体技术 年份：2009
Si微波功率器件应用十分广泛,其可靠性直接影响使用设备的性能。以L波段Si微波脉冲功率晶体管为例,提出了一种基于Arrhenius模型的Si微波功率晶体管可靠性寿命评价方案。采用...
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