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[期刊论文] 作者:谷文萍, 张林, 李清华, 邱彦章, 郝跃, 全思, 刘盼枝, 来源:物理学报 年份:2004
本文采用能量为1 MeV的中子对SiN钝化的AlGaN/GaN HEMT(高电子迁移率晶体管)器件进行了最高注量为1015cm-2的辐照.实验发现:当注量小于1014cm-2时,器件特性退化很小,其中栅电...
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