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[期刊论文] 作者：李树清,高中扬,满敏,,
来源：济宁学院学报 年份：2008
利用反射式椭偏仪测量SiO2光学薄膜材料的光学常数（折射率n和消光系数k）和厚度，并且对测量结果进行建模和线性拟合，同时获得多个参数Is、Ie、和△的ψ描述。实验结果表明了光谱范......
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