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[学位论文] 作者：万新恒,
来源：北京大学 年份：2001
针对MOS结构器件抗辐照应用所面临的瓶颈问题,该文主要围绕体硅及SOIMOS器件的总剂量辐照效应开展了实验及理论两方面的研究工作.首先,从实验角度较为系统地研究了体硅MOS器...
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