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[学位论文] 作者:刘安平,, 来源: 年份:2009
21世纪以来,扫描探针显微镜(Scanning Probe Microscope,简称SPM)已经成为纳米检测与加工不可缺少的研究仪器。尤其是原子力显微镜(AFM)凭借其原子量级(0.1nm)的精度,在材料...
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