搜索筛选:
搜索耗时0.7896秒,为你在为你在102,285,761篇论文里面共找到 1 篇相符的论文内容
发布年度:
[学位论文] 作者：谈恩民,,
来源：上海交通大学 年份：2007
BIST(Built-In Self-Test,内建自测试)技术是在CUT(Circuit Under Test,被测电路)中嵌入一测试结构来实施测试工作的。作为一种可实现全速测试(at-speed)的DFT(Design For Te...
相关搜索：
