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[会议论文] 作者：徐立生,高兆丰,梁法国,张士芬,
来源：中国电子学会可靠性分会第十三届学术年会 年份：2006
本文从失效机理出发,探讨了半导体器件的贮存寿命,提供了3种美国军用半导体器件长期贮存的实例,介绍了俄罗斯的规范,建议对超期复验中的有效贮存期作必要的修订....
[会议论文] 作者：Zhao Min,赵敏,Zhang Wansheng,张万生,Xu Lisheng,徐立生,
来源：第十三届全国LED产业发展与技术研讨会 年份：2012
平均寿命是LED可靠性的重要指标之一，一直是LED可靠性研究的重点.本文针对LED应用产品可靠性评估的问题，对电子行业的可靠性理念做了简要介绍，并以此为基础，根据国标 GB 5080.4-85《设备可靠性试验的点估计和区间估计方法(指数分布)》(等同于IEC 60605.4-1986)，采用......
[会议论文] 作者：黄杰;刘东月;彭浩;茹志芹;徐立生;,
来源：第十二届全国LED产业研讨与学术会议(2010’LED) 年份：2010
对国产1W大功率LED器件进行加速寿命试验时发现，在试验过程中发现了一种新的失效模式，即随着时间增加，正向电压VF逐渐变大。对以前做过加速寿命试验的大功率LED器件的数据进行了......
[会议论文] 作者：李树杰,李亚红,高兆丰,王长河,徐立生,
来源：第三届电子产品可靠性与环境实验技术经验交流会 年份：2001
本文阐述了影响器件气密性的各种因素和质量一致性检验中所存在的问题,给出了摸底试验条件制定思路,对实验结果进行了分析,最后总结了在检漏工作中的几点建议....
[会议论文] 作者：黄杰,高兆丰,张瑞霞,高金环,徐立生,
来源：第十一届全国LED产业与技术研讨会 年份：2008
本文通过恒定温度应力的加速寿命试验，对“水立方”XR7090BL-L1-B3-0-0001功率型蓝光LED的平均寿命进行了评估，通过图估法和数值分析法进行数据处理，得到了其工作结温不超过80℃...
[会议论文] 作者：高兆丰,曾耀龙,高金环,黄杰,徐立生,
来源：中国电子学会可靠性分会第十四届学术年会 年份：2008
本文概述了照明用功率LED的发展历程.阐述了LED的退化规律,提出了一种实用的加速寿命试验方法示评估功率LED的长期使用寿命,并使用该方法分别对LUMILEDS公司IW白光LED和CREE...
[会议论文] 作者：吴海东,莫郁薇,张增照,郑丽香,徐立生,
来源：中国电子学会可靠性分会第十一届学术年会 年份：2002
本论文用步进应力和恒定应力加速寿命试验的方法对国产砷化镓微波单片集成电路行波放大器的可靠性进行了初步的研究.根据步进应力试验的结果得到了恒定应力加速寿命试验的最佳试验温度.在T=255℃和T=285℃温度并加额定直流偏置条件下对样品进行了恒定应力加速寿......
[会议论文] 作者：Liu Dongyue,刘东月,Peng Hao,彭浩,Ru Zhiqin,茹志芹,Huang Jie,黄杰,Xv Lisheng,徐立生,
来源：第十三届全国LED产业发展与技术研讨会 年份：2012
SMD5050 LED是一种贴片式封装的LED,其中有三个芯片。本文采用了两种测量方法,对SMD5050LED的结温进行了测量,给出了一种精确测量SMD5050 LED结温的测试方法,该方法是在模拟SMD5050 LED正常工作时的状态下进行,并通过对比试验,验证了测量结果的准确性,本方法同......
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