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[会议论文] 作者：冯华平,
来源：2004年全国射线检测新技术研讨会 年份：2005
本文通过对Se75γ射线源的特性分析,参考曝光时间计算的表格法和公式法,研发出Se75源曝光时间的快速计算仪器:通过拍片工艺试验,提出获取优化的透照工艺参数的途径....
[会议论文] 作者：冯华平;,
来源：第三届无损检测新技术年会 年份：1996
使用程序型个人计算器，把焊缝射经探伤最少曝光次数Ｎ、一次曝光透照长度Ｌ〈，３〉、底片有效评定长度Ｌｅｆｆ参数的计算公式内存于计算器之中。使用时，只需向计算器输入工件外径Ｄ、厚度Ｔ、射源......
[会议论文] 作者：冯华平,
来源：中国机械工程学会无损检测分会第七届年会/国际无损检测技术交流研讨会 年份：1999
用程序型人个计算器对射线探伤工艺参数N、L、L计算式储存和计算，能准确迅速地求得符合不同国家标准、不同照相质量等级要求的这三个参数，从而满足了现场生产的需要。...
[会议论文] 作者：冯华平,
来源：2004年全国射线检测新技术研讨会 年份：2004
通过对Seγ射线源的特性分析,参考曝光时间计算的表格法和公式法,研发出Se源曝光时间的快速计算仪器;通过拍片工艺试验,提出获取优化的透照工艺参数的途径....
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