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[会议论文] 作者：曲利新,
来源：2011第十四届全国可靠性物理学术讨论会 年份：2011
通过对某电子设备故障分析和测试，确认故障部位是片式表面贴装电阻；通过对该片式电阻的失效分析，确认是使用过程中的异常外力造成电阻器端电极局部脱落；异常外力的来源是电装......
[会议论文] 作者：曲利新,
来源：2011第十四届全国可靠性物理学术讨论会 年份：2011
星载电子设备中广泛使用现场可编程门阵列(FPGA)，由于空间高能带电粒子的作用，FPGA器件易发生单粒子翻转等事件，导致程序错误运行或设备错误动作，对空间电子设备的正常工作带来巨大隐患。本文对FPGA在空间电子设备中的三模冗余等可靠性设计进行了小结。......
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