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[会议论文] 作者：杨林鹏,蒋方亮,贾增祥,季启政,高志良,董纯,
来源：ESD-S第五届静电防护与标准化国际研讨会 年份：2016
静电放电对电子元器件的威胁日益增长.本文分析了静电敏感器件的ESD损伤机理,介绍了静电敏感器件的ESD测试模型,并据此提出了静电敏感器件的ESD防护措施....
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