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[会议论文] 作者：王改丽,郑玉展,高博,李茂顺,崔江维,余学峰,任迪远,孙静,文林,
来源：第十届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会 年份：2009
本文通过对CMOS 4000、54HC系列门电路进行不同偏置条件下的电离辐照实验，比较了电离辐照环境中CMOS 4000和54HC系列电路的总剂量辐照响应特性，对其响应差异进行了较深入的机理...
[会议论文] 作者：王改丽,余学峰,任迪远,郑玉展,孙静,文林,高博,李茂顺,崔江维,
来源：第十届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会 年份：2009
本文通过对CMOS 4000、54HC系列门电路进行不同偏置条件下的电离辐照实验，比较了电离辐照环境中CMOS 4000和54HC系列电路的总剂量辐照响应特性，对其响应差异进行了较深入的机理研究，并由此探讨了54HC电路的抗辐射能力测试方法和评判标准.......
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