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[会议论文] 作者：姜山;董克君;,
来源：The 4th International Symposium on Materials and Reliability 年份：2015
加速器质谱(AMS)是基于加速器和离子探测器的一种高能同位素质谱(Ms).它克服了传统Ms存在的分子本底和同量异位素本底干扰的限制,因此具有极其高的同位素丰度灵敏度,对于...
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