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低温I-V特性相关论文
RTD串联电阻和峰值电压随温度变化的测量与分析
对GaAs基共振隧穿二极管(RTD)的,I-V特性随温度(T)的变化进行了系统测量,并基于此I-V特性,采用第一正阻区斜率法和第二正阻区,I-V特性法测......
期刊
共振隧穿二极管
串联电阻
低温I-V特性
峰值电压(V批
)随p度变化
resonant tunneling diode series resistance l
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