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本文利用MonteCarlo方法模拟了俄歇电子能谱中信号的产生和发射过程,从而对定量俄歇电子能谱分析中的重要参数——背散射因子作......
采用RF磁控溅射方法在Si衬底上生长ZnO薄膜. XRD测量结果表明, ZnO薄膜为c轴择优取向生长的. 对ZnO薄膜进行了XPS深度剖析及测试. ......
研究了XPS诱导的CeM5N45N45俄歇峰,由于其终态空穴处于芯能级,俄歇峰有较好的分辨率,从CeM5N45N45的俄歇峰可获得中心离子Ce的电子云密度等信息,发现其俄歇参数与......