提出了一种用X射线反射术标定光谱椭偏仪的方法.作为一种间接测量方法,光谱椭偏术测得的薄膜厚度依赖于其光学常数,不具有可溯源性......

对新型太阳能用薄膜材料TiAlON材料进行了椭偏研究。采用Cauchy,Lorentz和Tauc Lorentz模型对绝缘性TiAlON薄膜的椭偏测量结果进行......

阿伏加德罗常数(NA)是一个联系宏观物质和微观物质的基本物理常数,它的精确测量有助于重新定义国际基本单位“千克”和“摩尔”。X......