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在光谱椭偏测量中,玻璃基底的背反射会给测量结果造成较大影响。针对平板显示器件玻璃基底表面氮化硅镀膜进行了椭偏测量和模型计算......
单晶硅球法是阿伏伽德罗常数量值精密测量以及质量重新定义的一种重要方案。单晶硅球表面的氧化层厚度关系到硅球质量和直径测量结......
材料光学常数是进行光与物质相互作用分析的基本物性参数,其准确测量对于微尺度辐射换热及辐射特性的准确分析和模拟至关重要。随着......
采用常压化学气相沉积法在玻璃基底上沉积氟掺杂氧化锡(FTO)薄膜。利用椭偏法测试了玻璃基底的折射率以及薄膜的厚度和折射率。建立......
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光学常数是固体材料最基础的热辐射物性。现有文献表明,温度是影响材料光学常数的重要因素之一。获得不同温度下的光学常数,并研究......