单字节多位翻转相关硕士博士期刊学术论文 - 搜论网

单字节多位翻转相关论文

基于一种交织码的多位翻转容错技术研究

随着技术的发展和核心电压的降低，存储器更易受瞬时错误（软错误）影响，成为影响航天器件可靠性的主要原因。错误检测与纠正（EDAC）码（也称错......

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静态存储器错误纠正码单字节多位翻转随机错误突发错误 SRAM error correct codes single event multiple

基于改进型(14,8)循环码的SRAM型存储器多位翻转容错技术研究

SRAM型存储器空间应用通常采取纠一检二(SEC-DED)的方法,克服空间单粒子翻转(SEU)对其产生的影响。随着SRAM型存储器工艺尺寸的减......

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静态存储器容错单字节多位翻转突发错误可靠性

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