可调试设计相关硕士博士期刊学术论文 - 搜论网

可调试设计相关论文

芯片调试技术中插入点和监听电路区域的研究

根据硬件开销和缺陷的检测能力评估了一种可重构的调试设计方案.对于要调试的目标电路,首先设计并完成了一套由4个32位处理器核组......

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芯片调试硅片调试后晶片验证可调试设计 on-chip debug silicon debug post-silicon validation design

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嵌入式SoC可调试设计的研究

随着集成电路工艺的发展，可以在单个芯片上集成更多的电路，实现单芯片的系统，也就是常说的片上系统SoC(System on Chip)。片上系统的......

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可调试设计片上调试可观察性可控制性 JTAG 调试器多核调试可重用性

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