器件参数漂移相关硕士博士期刊学术论文 - 搜论网

器件参数漂移相关论文

1/f噪声源与其在半导体器件可靠性评估中的应用

1／f噪声，由于其能够反映器件的质量与可靠性参数，其研究受到重视。本文首先较为系统地介绍了1／f噪声源两种较为成熟的理论：迁移率涨落模......

期刊

1/f噪声迁移率涨落模型载流子涨落模型器件参数漂移 1/f noise mobility fluctuation model carrier fluc

看过本文同时还关注