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在现场可编程门阵列内嵌块存储器(BRAM)测试中,传统测试方法存在故障覆盖率不高、测试内容较多、测试成本较高等问题。为了提高故障覆......
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在高可靠性航空航天、航空电子设备和军用应用中,辐射引发的多比特翻转(MBU)成为FPGA存储器的一个主要的可靠性问题;传统的单比特......
设计了一种用于FPGA中的同步、双端口、容量为4kbit、可配置的存储器模块(Block RAM,BRAM)。BRAM以阵列形式内嵌在FPGA内部,是FPGA......