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本文利用三维数字射线追踪技术，根据电离层垂测数据得到的背景电子密度剖面，仿真垂测电离图，结果显示射线追踪的应用是可行而且有效的......
对于交叠多项式反演方法中较多或大量数据缺失、以及未结合电离层传播特性的数据插值处理导致的剖面计算误差大幅增大,甚至错误的......
