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多频率内建自测电路相关论文

适用于嵌入式五口SRAM的多频率内建自测电路

提出了一种多频率带有扫描链的BIST方案,用于五口的32×32嵌入式SRAM的可测性设计.分析了多口SRAM的结构并确定其故障模型,在......

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嵌入式SRAM 多频率内建自测电路寄存器堆扫描链可测性设计存储器 designfortest BIST register file scan cha

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