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并行测试生成算法相关论文

面向同步时序电路的电路并行测试生成算法

面对VLSI设计规模日益增大的挑战，除了电路并行以外，其它已有的基本并行策略都无法从根本上解决测试生成的复杂性问题，然而，已有的电路......

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测试生成系统同步时序电路电路并行触发器大功能块并行策略 VLSI电路并行测试生成算法 test generation synchronous seq

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