微处理器测试相关论文
随着半导体工艺技术的不断发展，集成电路的测试成本呈快速上升的趋势，其主要原因包括：1)电路规模不断增大和故障类型的增多使得测试数......
随着芯片制造工艺的发展和频率的提高,时延测试在微处理器测试中有着越来越重要的作用.本文介绍了一款通用微处理器上的时延测试,......
重点讨论了对法国专家指出的微处理器测试的一致性测试算法的改进。提出算法中对功能故障的检查能力需要加强，故障的覆盖有待于提高......
嵌入式微处理器基准测试程序协会,简称为EEMBC,宣布将在其发出的正式基准测试报告中,增加内容。今后所有为微处理器测试所发出的......
FCT6芯片是一个集成了 Intel80 31微处理器及一些外围电路的嵌入式微控制器 ,它的集成度和复杂度高 ,又有嵌入式 RAM部件 ,而且芯......
处理器离线测试广泛采用随机测试技术，但是随机测试技术生成大量测试代码，并且测试覆盖率不高；主要针对随机测试的不足，借鉴基于软件内......
全速电流测试是一种新的电路测试方法,以AT89C51微处理器为例,说明用全速电流测试进行微处理器测试的可能性.实验中将80C51内核的H......
基于固定型故障模型的传统电压测试技术是一种应用最广、最为重要的测试技术,且已经应用多年。但是随着集成电路日新月异地发展,电......
全速电流测试是一种新的电路测试方法，现以AT89C51微处理器为例，说明用全速电流测试进行微处理器测试的可能性．在实验中，让微处理器重......
现代微处理器的指令都是流水执行,流水线测试也应成为功能测试的一部分.讨论了指令在流水线中的执行以及指令间的依赖关系,给出了N......
龙芯3号是一款低功耗处理器芯片,要求测试时保持较低功耗.为了解决低功耗测试的问题,对龙芯3号测试功耗进行了细致分析,提出一套考......
