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微电子器件可靠性相关论文
微电子器件可靠性动态跟踪
本文主要从栅氧化层、热载流子、金属化、静电放电四个方面来讨论亚微米器件的可靠性问题及发展动态。......
会议
微电子器件可靠性
栅氧化层
热载流子
微电子器件可靠性的噪声评价方法
随着微电子器件朝着高性能、小尺寸和长寿命方向发展,传统的寿命试验可靠性评价方法的局限性日益显著。近年来得到了大量研究结果表......
会议
微电子器件可靠性
噪声
可靠性表征
半导体器件
寿命试验
失效模式
潜在缺陷
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非破坏性
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军用微电子器件可靠性发展战略研讨
...
会议
军用
微电子器件可靠性
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