扫描测试压缩相关论文
随着集成电路设计与航天技术的飞速发展,航天级系统集成芯片技术受到普遍重视,由于此类芯片应用环境特殊,设计与测试问题复杂,测试......
为了在集成电路可测试性设计(DFT)中实现更有效的测试向量压缩,减少测试数据容量和测试时间,采用嵌入式确定性测试(EDT)的扫描测试......
