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掠入射X射线反射谱相关论文

MOCVD Alx Ga1-xN／GaN超晶格结构的界面与表面表征

采用掠入射X射线反射谱技术和原子力显微镜表面形貌技术对MOCVD Alx Ga1-xN／GaN超晶格结构的界面与表面进行了表征，将反射谱数据与X......

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GAN基半导体异质结构高分辨率X射线衍射掠入射X射线反射谱原子力显微镜 GaN-based semiconductor heterostructure

基于掠入射X射线反射谱的Mo/Si多层膜扩散系数测量

测量了Mo/Si多层膜在250℃下经历不同时间退火后的掠入射X射线反射谱,从中提取出特定级次衍射峰在退火过程中的相对移位,通过布拉......

期刊

薄膜 Mo/Si多层膜扩散系数掠入射X射线反射谱四层模型极紫外

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