晶型测试相关硕士博士期刊学术论文 - 搜论网

晶型测试相关论文

稀土氧化物CeO2、La2O3掺杂SnO2基陶瓷的性能研究

二氧化锡属于n型半导体,是一种宽带系半导体材料,带宽范围为3.6-4.0eV。载流子主要为晶格中的自由电子,纯二氧化锡不宜作导电陶瓷,......

学位

SnO2 CeO2 LaO3 电阻率力学性能

XRD在废旧脱硝催化剂晶型测试领域的研究

X射线衍射简称XRD是分析材料成分与内部分子结构的一项重要手段,在对废旧脱销催化剂的晶型测定中出现峰移位与不出峰等测量偏差现......

期刊

XRD 脱硝催化剂晶型测试 X射线衍射法参数调节

看过本文同时还关注